HC-8683及8685量測介紹
一、 導(dǎo)通阻抗
將某一條連接線切到定電流源遠(yuǎn)流(Ic)，另外一端接地(GND)，端讀取測試電壓(Ｖtest)。
二、 絕緣阻抗
將某一條連接線切到電壓原(ＶH)，其他的線全部接在一起，切到Ｒs端讀取測試電壓Ｖtest。
將每一條線皆經(jīng)由上述原理測試，直到所有的線都測完為止，若有錯(cuò)誤則顯示出來。
DC電壓越高，絕緣電阻越高。
三、 短路端點(diǎn)判斷
當(dāng)有短路現(xiàn)象發(fā)生時(shí)(如圖所示)，則再做四次導(dǎo)通阻抗測量。
(1) A01切到定電流源，其他點(diǎn)接地，測量A01導(dǎo)通量。
(2) A02切到定電流源，其他點(diǎn)接地，測量A02導(dǎo)通量。
(3) B01切到定電流源，其他點(diǎn)接地，測量B01導(dǎo)通量。
(4) B02切到定電流源，其他點(diǎn)接地，測量B021導(dǎo)通量。
如圖所示，A01及A02導(dǎo)通量最好，因此A01及A02短路。
四、 斷路端點(diǎn)判斷
當(dāng)有斷路現(xiàn)象發(fā)生時(shí)(如圖所示)，則再做二次天線雜訊量測量。
五、 測試模式說明：
1. 模式一：奇對偶：(以8回路為例，以下類同)
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指的是奇數(shù)PIN(1、3、5等)線材對偶數(shù)PIN(2、4、6等)線材之間做絕緣測試，其優(yōu)點(diǎn)是測試速度快，缺點(diǎn)是奇數(shù)PIN對奇數(shù)PIN之間沒有做絕緣測試，一般情況下不採用
此種模式。
2. 模式二：所有對地(如選擇A8點(diǎn)為地)
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指的是非地線對指定的地線之間做絕緣測試，其優(yōu)點(diǎn)是測試速度快，缺點(diǎn)是非地線與非地線之間沒有絕緣測試，一般情況下不採用此種模式。
3. 模式三：二分快速
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其測試方法為每次測試都把線材分成兩組分別加正負(fù)電壓來做絕緣測試，它測次數(shù)與設(shè)定的測試點(diǎn)數(shù)有關(guān)，如右圖，設(shè)定為2點(diǎn)只做1次測試，設(shè)定4點(diǎn)時(shí)測試2次
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4. 模式四：一對其它
測試方法是線材的一個(gè)點(diǎn)對其它全部的點(diǎn)做絕緣測試，線材的每一個(gè)點(diǎn)都會一一做這樣的測試，其優(yōu)點(diǎn)是儀器能查出第一點(diǎn)的絕緣及解壓值且可以全部顯示，精準(zhǔn)度較高，缺點(diǎn)是測試速度較慢，操作時(shí)建議把模式三及此模式同時(shí)打開。
六、 測試過程中常見問題：
1. 斷路：
原因：A.治具 B.線材 C.儀器
2. 導(dǎo)通不良：
原因：
A. 治具接觸電阻大
B. 治具與線材的接觸電阻
C. 儀器內(nèi)阻(歸零解決)
3. 絕緣不良：
原因：
A. 治具較髒，濕度大
B. 線材材料與制作工藝問題
C. 儀器Relay板較髒，可作空測或清潔工作
七、 儀器使用注意事項(xiàng)
1. 轉(zhuǎn)接線愈短愈好，其影響導(dǎo)通、單邊靈敏度、絕緣度
2. 轉(zhuǎn)接頭要經(jīng)常更換，其影響導(dǎo)通、瞬斷
3. 治具及轉(zhuǎn)接頭隨時(shí)保持清潔，影響絕緣
八、 HC-8683及8685不良原因分析
1. 導(dǎo)通不良： X COND NET001(A01)*B01 HILIMT
X COND NET001(A01)*3.5Ω
2. 開路，短路： OPEN A01：B01
SHORT A01→A04
3. 電容不良： X CIN C33→C34(1.00N)HILIMIT
X CIN C33→C34(1.00N)2.00μF
4. 電阻不良： X R1 A01→A02(1.0Ω)HILIMIT
X R1 A01→A02(1.0Ω)10.5Ω
5. 二極管不良： D0.8 C49→C50(1.80V)7.5V
D1.7 C49→C50(1.70V)2.9V
6. 絕緣不良： X INSUL(MOED3)=ARCING
X INSUL NET003(A09)=1.9MΩ
7. 瞬間短斷路不良： OPEN A01：A02(INTERM)
SHORT C15→C17(INTERM)
8. 誤配： M．W．B36*B38
注：此項(xiàng)不可分辯誤配端點(diǎn)，即此顯示不表示在B36、B38點(diǎn)誤配。 |
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